Igor_2006 Aug 20, 2009:

я согласен, что есть определенная аналогия в принципах этих методов. Но, разработчик (Rosakis) называл свой метод, на мой взгляд, не оглядываясь на упомянутую Вами работу. Поэтому мы, как переводчики, должны попытаться найти такое название на русском языке, которое отражало бы мысли, заложенные автором. С учетом указанных мною ранее различий такая подгонка под уже существующий на русском языке термин мне кажется неоправданной. К счастью, решать не мне. (Я бы на месте автора вопроса крепко призадумался). Пусть автор вопроса и выбирает. В конце концов, он может опираться на контекст всей работы (которого мы не знаем).

mk_lab Aug 20, 2009:

Тут дело не в области применения, а в сути метода, который заключается в измерении градиента когерентности на разных неоднородностях. А уж какие волны отражаются/рассеиваются неважно, называться это должно одинаково.

Igor_2006 Aug 20, 2009:

нет пока перевода на русский язык Такое у меня сложилось впечатление. В ссылке mk_lab речь идет о работе 1995 года, тогда как "Coherent gradient sensor method" был разработан в 1998 году
http://books.google.ru/books?id=9UNnzNYAkboC&pg=PA111&lpg=PA...
Кроме того, в ссылке mk_lab речь идет о рентгеновской дифрактометрии кристаллов, тогда как вопрос был о лазерном интерферометрическом методе измерения кривизны тонких пленок. Это все-таки разные вещи.