Glossary entry

English term or phrase:

medium-light tapping forces

Russian translation:

средняя и слабая сила нажима зонда [в полуконтактном режиме работы]

    The asker opted for community grading. The question was closed on 2013-02-11 07:54:07 based on peer agreement (or, if there were too few peer comments, asker preference.)
Feb 7, 2013 10:11
11 yrs ago
English term

medium-light tapping forces

English to Russian Science Physics Микроскопия
Silicon cantilevers with a nomical resonance frequency of 190kHz are used, with medium-light tapping forces characterized by a 4.0v free amplitude and a 0.9 set point reduction ratio.

Discussion

Yuriy_B (asker) Feb 7, 2013:
Phase morphology is studied using Atomic Force Microscopy (AFM). Cross-sections of each tubing sample is prepared so that the image is taken in the plane perpendicular to the direction of the extrusion. Samples are cryomicrotomed with a diamond knife held at -150ºC to prepare cryfaced surfaces for analysis with a Veeco MultiMode AFM
mk_lab Feb 7, 2013:
А что за прибор описывается? Приведите еще пару абзацев перед-после

Proposed translations

5 hrs
Selected

средняя и слабая сила нажима зонда [в полуконтактном режиме работы]

Peer comment(s):

neutral mk_lab : У тебя, Наташ, описание, а не перевод. Тогда не получится отличия от контактного метода. Tapping пропадает :( /// Полуконтактный - альтернативное название. оно и в той статье есть. По-английски они тоже параллельно идут tapping (semicontact) method.
35 mins
Не согласна. Tapping mode сейчас принято называть полуконтактным режимом (ссылок - сколько угодно), а "обстукивание" - это доморощенный вариант, появившийся на заре атомной микроскопии
Something went wrong...
4 KudoZ points awarded for this answer. Comment: "Selected automatically based on peer agreement."
42 mins

средне-слабые силы "обстукивания"

Силы взаимодействия вибрирующей измерительной консоли атомно-силового макроскопа с поверхностью зондируемого образца в режиме "обстукивания"

Режим “обстукивания” по сути является реализацией контактного АСМ в динамическом режиме, образ действия которого подобен бесконтактному. В режиме “обстукивания” измерительная консоль колеблется на своей резонансной частоте с высокой амплитудой порядка 100 нм. При каждом колебании острие касается образца в своей нижней точке (отсюда термин режим “обстукивания”). При работе в режиме “обстукивания” повреждение образца менее вероятно, чем в контактном, поскольку в процессе перехода к каждой последующей точке сканирования устраняются боковые (латеральные) силы (трение или протягивание) между образцом и острием. Однако вертикальные силы в режиме “обстукивания” должны быть значительно выше, чем капиллярная сила (10–8 Н), для того чтобы дать острию сканирующей иглы возможность проникать внутрь и выходить из водного слоя без задержки. Эта вертикальная сила достаточно велика, чтобы деформировать поверхность мягких и упругих материалов. Поэтому изображения, полученные в режиме “обстукивания”, часто представляют собой смесь топографии и упругих свойств поверхности образца [17].
http://microtm.narod.ru/art-spm/art-spm.htm

--------------------------------------------------
Note added at 43 mins (2013-02-07 10:54:29 GMT)
--------------------------------------------------

атомно-силового мИкроскопа (АСМ)

--------------------------------------------------
Note added at 46 mins (2013-02-07 10:57:57 GMT)
--------------------------------------------------

Измерительная консоль - это игла, которая у вас называется cantilever. Иногда в русскоязычной литературе используют кальку "кантилевер"

--------------------------------------------------
Note added at 3 hrs (2013-02-07 13:31:32 GMT)
--------------------------------------------------

Точнее, консоль (cantilever) - это не сама игла, а вибрирующая пьезокристаллическая (в данном случае, кварцевая) пластинка, на конце которой закреплена чувствительная игла (острие, tip)

--------------------------------------------------
Note added at 5 hrs (2013-02-07 15:53:58 GMT)
--------------------------------------------------

Атомно-силовая микроскопия - Введение в нанотехнологии
nano-edu.ulsu.ru/.../Глава_3._Инструменты_нанотехнологий._Ат...
25 нояб. 2008 г. – Дополнительным преимуществом атомно-силовых микроскопов ... в процессе сканирования, так называемый режим «обстукивания» (tapping mode). ...

--------------------------------------------------
Note added at 5 hrs (2013-02-07 16:07:18 GMT)
--------------------------------------------------

[PDF]
Гибридизированные полисиликат/полиэпоксиакрилат ...
www.nbuv.gov.ua/portal/chem_biol/polimer/2008_2/Article7.pd...
Профили поверхностей сканировались с помощью атомно-силового микроскопа Veeco/Digital Instruments в режиме обстукивания (tapping mode) с ...


--------------------------------------------------
Note added at 6 hrs (2013-02-07 16:11:57 GMT)
--------------------------------------------------

www.nbuv.gov.ua/portal/chem_biol/polimer/2008_2/Article7.pd...
Профили поверхностей сканировались с помощью атомно-силового микроскопа Veeco/Digital Instruments в режиме обстукивания (tapping mode) с ...
Peer comment(s):

neutral Natalie : Миш, так то статья с 1997 года - с той поры терминологию "обстукивания" немножко придумали уже
4 hrs
До сих пор так этот режим АСМ называют и никак не иначе. Можно, конечно, обойти "обстукивание", написав что-то описательное, но это не будет переводом исходного tapping. Гуглани, ради интереса, - полно свежих статей с этим термином.
Something went wrong...
Term search
  • All of ProZ.com
  • Term search
  • Jobs
  • Forums
  • Multiple search